EM-WoSExpert Systems with Applications2022-06-11第 206 卷，117768-117768开放获取

A tomographic workflow to enable deep learning for X-ray based foreign object detection

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Expert Systems with ApplicationsElsevier

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ISSN: 0957-4174

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ZEEGERS M T, VAN LEEUWEN T, PELT D M, et al. A tomographic workflow to enable deep learning for X-ray based foreign object detection[J]. Expert Systems with Applications, 2022, 206: 117768-117768. DOI:10.1016/j.eswa.2022.117768.

著录项

学科: 管理学管理科学与工程工业与制造工程
类型: 研究论文
期刊: Expert Systems with Applications
基金资助: Nederlandse Organisatie voor Wetenschappelijk Onderzoek项目号 639.073.506、016.Veni.192.235、016.Veni
卷期页: 第 206 卷，117768-117768
出版: 2022-06-11
语言: 英语
DOI: 10.1016/j.eswa.2022.117768

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