EM-WoSComputers & Industrial Engineering2025-04-12第 204 卷，111115-111115开放获取

A data-driven modelling framework for predicting the quality of semiconductor devices to support burn-in decisions

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ISSN: 0360-8352

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AHMED I H, BARALDI P, ZIO E, et al. A data-driven modelling framework for predicting the quality of semiconductor devices to support burn-in decisions[J]. Computers & Industrial Engineering, 2025, 204: 111115-111115. DOI:10.1016/j.cie.2025.111115.

著录项

学科: 工学控制科学与工程控制与系统工程
类型: 研究论文
期刊: Computers & Industrial Engineering
基金资助: Electronic Components and Systems for European Leadership
卷期页: 第 204 卷，111115-111115
出版: 2025-04-12
语言: 英语
DOI: 10.1016/j.cie.2025.111115

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