文献检索/Computers & Industrial EngineeringEM-WoSComputers & Industrial Engineering2025-02-15第 203 卷，110955-110955开放获取高影响力 · 前 10%Semiconductor probe card proactive maintenance using graph self-supervised learning and an empirical studyTran Hong Van NguyenNational Tsing Hua UniversityChen–Fu ChienNational Tsing Hua University去出版社页面 引用论文图谱收藏 被引提醒分享打印登录后看摘要和中文要点英文摘要、AI 生成的中文摘要和三条要点、参考文献和引证文献列表、论文图谱，注册免费。登录 / 注册关键词proactive maintenancewafer probingfault diagnosiscorrective action recommendationsknowledge graphsgraph self-supervised learninggraph convolutional networksearly fault detectionequipment downtime reduction参考文献44引证文献2相似文献引文网络关联作者相关机构登录后可以看完整列表。去登录论文图谱本篇和它的参考文献、引证文献、相似文献登录后可以看这篇的论文图谱：谁被它引用、谁引用了它、还有哪些相似的研究。登录 / 注册
