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EM-T1Reliability Engineering & System Safety2026-03-07第 272 卷，112543-112543

A Chen-distribution-based Wiener process for nonlinear degradation processes with likelihood-free Bayesian inference

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Wiener process degradation modelChen distributionnonlinear degradationdrift modelingaccelerated degradationfirst passage time distributionremaining useful life predictionsimulation-based inferenceapproximate Bayesian computationGibbs samplingfatigue crack growthreliability modeling

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