文献检索/Reliability Engineering & System SafetyEM-T1Reliability Engineering & System Safety2017-02-07第 163 卷,14-21开放获取高影响力 · 前 10%A novel lifetime prediction for integrated LED lamps by electronic-thermal simulationBo SunDelft University of TechnologyXuejun FanLamar UniversityHuaiyu YeChongqing UniversityJiajie FanHohai UniversityCheng QianChinese Academy of SciencesWillem Dirk van DrielSignify (Netherlands)Guoqi ZhangChinese Academy of Sciences去出版社页面 引用论文图谱收藏 被引提醒分享打印登录后看摘要和中文要点英文摘要、AI 生成的中文摘要和三条要点、参考文献和引证文献列表、论文图谱,注册免费。登录 / 注册关键词physics of failureLED degradationcoupling effectsluminous flux degradation参考文献39引证文献2相似文献引文网络关联作者相关机构登录后可以看完整列表。去登录论文图谱本篇和它的参考文献、引证文献、相似文献登录后可以看这篇的论文图谱:谁被它引用、谁引用了它、还有哪些相似的研究。登录 / 注册