Guesuk Lee

Korea Electronics Technology Institute

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作者编号 A5042525347 · ORCID 0000-0002-6741-9266。统计只算本站收录的论文。

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1
Estimation of fatigue crack initiation and growth in engineering product development using a digital twin approachReliability Engineering & System Safety202239

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合作者

Byeng Dong Youn1 篇 Wongon Kim1 篇 Hyejeong Son1 篇 Hyunhee Choi1 篇

研究主题和期刊

Reliability Engineering & System Safety1