EM-WoSExpert Systems with Applications2025-12-16第 306 卷，130535-130535开放获取

High-Resolution neural attenuation field for industrial computed tomography

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ISSN: 0957-4174

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SHIN W, KIM I, LEE J, et al. High-Resolution neural attenuation field for industrial computed tomography[J]. Expert Systems with Applications, 2025, 306: 130535-130535. DOI:10.1016/j.eswa.2025.130535.

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学科: 工学生物医学工程生物医学工程
类型: 研究论文
期刊: Expert Systems with Applications
基金资助: Korea Institute of Industrial Technology Korea Evaluation Institute of Industrial Technology项目号 RS-2024-00507879、EH-25-0002
卷期页: 第 306 卷，130535-130535
出版: 2025-12-16
语言: 英语
DOI: 10.1016/j.eswa.2025.130535

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